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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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研究单元&专题
中国科学院半导体研究... [8]
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会议论文 [8]
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2004 [1]
2002 [3]
1999 [1]
1998 [3]
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英语 [8]
出处
2002 3RD I... [3]
SEMICONDUC... [2]
OPTOELECTR... [1]
PHOTONICS ... [1]
PROCEEDING... [1]
资助项目
收录类别
CPCI-S [8]
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Chinese In... [3]
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Tolerance analysis for incident angle of volume phase holographic grating used in optical channel performance monitor
会议论文
PROCEEDINGS OF THE THIRD INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON INSTRUMENTATION SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOL 3, Xian, PEOPLES R CHINA, AUG 18-22, 2004
作者:
Xin HL
;
Li F
;
Cao P
;
He YJ
;
Chen P
;
Liu YL
;
Xin HL Chinese Acad Sci Inst Semicond Res & Dev Ctr Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Ocpm
Vphg
Incident Angle
Tolerance
Two-port calibration of test fixtures with OSL method.
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Chen ZY
;
Wang YL
;
Liu Y
;
Zhu NH
;
Chen ZY CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Microwave Network Analyzer
Scattering-parameter Measurement
Phase Uncertainty
Network-analyzer Calibration
Line
Choice of calibration equations of the TSM method
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Wang YL CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Network Analyzer
Frequency Limitation
Scattering-parameter Measurement
Network-analyzer Calibration
Test Fixtures
Frequency limitation in calibrating microwave test fixtures
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Qian C
;
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Qian C CAS State Key Lab Integrated Optoelect Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Microwave Network Analyzer
Scattering-parameter Measurement
Phase Uncertainty
Network-analyzer Calibration
650nm AlGaInP quantum well lasers for the application of DVD
会议论文
PHOTONICS TECHNOLOGY INTO THE 21ST CENTURY: SEMICONDUCTORS, MICROSTRUCTURES, AND NANOSTRUCTURES, 3899, SINGAPORE, SINGAPORE, DEC 01-03, 1999
作者:
Chen LH
;
Ma XY
;
Guo L
;
Ma J
;
Ding HY
;
Cao Q
;
Wang LM
;
Zhang GZ
;
Yang YL
;
Wang GH
;
Tan MQ
;
Chen LH Chinese Acad Sci Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Dvd
Laser Diode
Visible
Algainp
Mocvd
Operation
Diodes
High performance 1.55 mu m InGaAsP/InP strained layer quantum well laser diodes fabricated by MOCVD overgrowth method
会议论文
SEMICONDUCTOR LASERS III, 3547, BEIJING, PEOPLES R CHINA, SEP 16-18, 1998
作者:
Ma XY
;
Cao Q
;
Wang ST
;
Guo L
;
Wang ZM
;
Wang LM
;
He GP
;
Yang YL
;
Zhang HQ
;
Zhou XN
;
Chen LH
;
Ma XY Chinese Acad Sci Inst Semicond POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Ingaasp
Strained Layer Quantum Well
Laser Diode
Mocvd
High temperature operation of 650nm AlGaInP quantum well laser diodes grown by LP-MOCVD
会议论文
OPTOELECTRONIC MATERIALS AND DEVICES, 3419, TAIPEI, TAIWAN, JUL 09-11, 1998
作者:
Ma XY
;
Cao Q
;
Wang ST
;
Guo L
;
Lian P
;
Wang LM
;
Zhang XY
;
Yang YL
;
Zhang HQ
;
Wang GH
;
Chen LH
;
Ma XY Chinese Acad Sci Inst Semicond POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Algainp
Quantum Well
Laser Diode
Mocvd
The study of single mode 650nm AlGaInP quantum well laser diodes for DVD
会议论文
SEMICONDUCTOR LASERS III, 3547, BEIJING, PEOPLES R CHINA, SEP 16-18, 1998
作者:
Ma XY
;
Cao Q
;
Wang ST
;
Guo L
;
Wang LM
;
Yang YL
;
Zhang HQ
;
Zhang XY
;
Chen LH
;
Ma XY Chinese Acad Sci Inst Semicond POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Algainp
Quantum Well
Laser Diode
Mocvd
Dvd