中文版 | English

在结果中检索

SEMI OpenIR

浏览/检索结果: 共49条，第1-10条 帮助

限定条件                
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
适用于激光共聚焦测量装置的光学窗口片 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-01-13, 2010-08-12
发明人:  杨晋玲;  周美强;  周 威;  唐龙娟;  朱银芳;  杨富华
Adobe PDF(423Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：2488/418  |  提交时间：2010/08/12
微机电系统薄膜材料力学性能与可靠性测试方法和装置 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-09-02, 公开日期: 4005
发明人:  杨晋玲;  周 威;  杨富华 
Adobe PDF(953Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1241/205  |  提交时间：2010/03/19
InGaAsP/InP Bistability Triangle Microlasers 会议论文
, Shanghai, PEOPLES R CHINA, AUG 30-SEP 03, 2009
作者:  Huang YZ (Huang Yong-Zhen);  Yang YD (Yang Yue-De);  Wang SJ (Wang Shi-Jiang);  Xiao JL (Xiao Jin-Long);  Du Y (Du Yun)
Adobe PDF(298Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1626/318  |  提交时间：2010/06/04
Simulation on Gain Recovery of Quantum Dot Semiconductor Optical Amplifiers by Rate Equation 会议论文
NUSOD 2009: 9TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON NUMERICAL SIMULATION OF OPTOELECTRONIC DEVICES, PROCEEDINGS, Gwangju, SOUTH KOREA, SEP 14-17, 2009
作者:  Xiao JL (Xiao Jin-Long);  Yang YD (Yang Yue-De);  Huang YZ (Huang Yong-Zhen);  Xiao, JL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China.
Adobe PDF(687Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1916/561  |  提交时间：2010/04/26
Dynamics  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Huang YZ;  Wang SJ;  Yang YD;  Xiao JL;  Hu YH;  Du Y;  Huang YZ Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: yzhuang@semi.ac.cn
Adobe PDF(399Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1549/538  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou W;  Yang JL;  Li Y;  Ji A;  Yang FH;  Yu YD;  Yang JL Chinese Acad Sci Inst Semicond Qinghua Donglu A 35 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: jlyang@semi.ac.cn
Adobe PDF(646Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1400/494  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Huang YZ (Huang YongZhen);  Yang YD (Yang YueDe);  Wang SJ (Wang ShiJiang);  Xiao JL (Xiao JinLong);  Che KJ (Che KaiJun);  Du Y (Du Yun);  Huang, YZ, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: yzhuang@semi.ac.cn
Adobe PDF(1719Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1066/231  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
Adobe PDF(750Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1101/423  |  提交时间：2010/03/08
Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
Adobe PDF(511Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：2135/511  |  提交时间：2010/03/09
Bulge Test Fracture Property  Silicon Carbide Thin Films  Weibull Distribution Function  
Fracture properties of PECVD silicon nitride thin films by long rectangular memrane bulge test 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Li, Y;  Yang, FH;  Yang, JL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
Adobe PDF(267Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1488/372  |  提交时间：2010/03/09
Bulge Test  Fracture Property  Silicon Nitride  Weibull Distribution Function