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| 在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人: 提刘旺; 杨晓红 ; 韩 勤
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| 在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人: 杨晓红; 韩 勤; 提刘旺
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 鞠研玲; 杨晓红; 韩勤; 杜云; 倪海桥; 黄社松; 王鹏飞; 贺继方; 牛智川
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Li SP (Li Shuping); Fang ZL (Fang Zhilai); Chen HY (Chen Hangyang); Li JC (Li Jinchai); Chen XH (Chen Xiaohong); Yuan XL (Yuan Xiaoli); Sekiguchi T (Sekiguchi Takashi); Wang QM (Wang Qiming); Kang JY (Kang Junyong); Kang, JY, Xiamen Univ, Dept Phys, Xiamen 361005, Peoples R China. E-mail: jykang@xmu.edu.cn
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| Defect influence on luminescence efficiency of GaN-based LEDs 会议论文
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, Beijing, PEOPLES R CHINA, SEP 13-19, 2005
作者: Li SP (Li Shuping); Fang ZL (Fang Zhilai); Chen HY (Chen Hangyang); Li JC (Li Jinchai); Chen XH (Chen Xiaohong); Yuan XL (Yuan Xiaoli); Sekiguchi T (Sekiguchi Takashi); Wang QM (Wang Qiming); Kang JY (Kang Junyong); Kang, JY, Xiamen Univ, Dept Phys, Xiamen 361005, Peoples R China. 电子邮箱地址: jykang@xmu.edu.cn
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Defects |
| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 黄辉; 王兴妍; 王琦; 黄永清; 任晓敏; 高俊华; 张胜利; 刘宇; 祝宁华; 马骁宇; 杨晓红; 吴荣汉
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Wang Xiaohong; Liu Jingwei; Yan Qingfeng; Chen Shaowu; Yu Jinzhong
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Lu Qiaoyin; Chen Xiaohong; Guo Weihua; Yu Lijuan; Huang Yongzhen; Wang Jian; Luo Yi
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