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无权访问的条目 期刊论文
作者:  胡强;  魏同波;  段瑞飞;  羊建坤;  霍自强;  卢铁城;  曾一平
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一种对半导体材料进行霍尔测试的装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910244534.8, 公开日期: 2011-08-31
发明人:  李弋洋;  李成基;  曾一平
Adobe PDF(925Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1386/217  |  提交时间：2011/08/31