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| 在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人: 提刘旺; 杨晓红 ; 韩 勤
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| 在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人: 杨晓红; 韩 勤; 提刘旺
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| 量子点-阱红外探测器的结构及其制备方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-09-24, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人: 王志成; 徐波; 刘峰奇; 陈涌海; 王占国; 石礼伟; 梁凌燕
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 韦文生; 王天民; 张春熹; 李国华; 卢励吾
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 王启元; 谭利文; 王俊; 郁元恒; 林兰英
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 谭利文; 王俊; 王启元; 郁元桓; 邓惠芳; 王建华; 林兰英
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Lu LW; Wang ZG; Yang CL; Wang J; Ma ZH; Sou IK; Ge WK; Lu LW,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Lab Semicond Mat Sci,Beijing 100083,Peoples R China.
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Lu LW; Zhang YH; Xu ZT; Xu ZY; Wang ZG; Wang J; Ge WK; Lu LW,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Lab Semicond Mat Sci,Beijing 100083,Peoples R China.
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Lu LW; Zhang YH; Wang J; Ge W; Lu LW,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Lab Semicond Mat Sci,Beijing 100083,Peoples R China.
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 王启元; 林兰英; 王建华; 邓惠芳; 谭利文; 王俊; 蔡田海; 郁元桓
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