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Microstructural and compositional characteristics of GaN films grown on a ZnO-buffered Si(111) wafer 会议论文
MICRON, 35 (6), Wuhan, PEOPLES R CHINA, OCT 17-21, 2003
作者:  Luo XH;  Wang RM;  Zhang XP;  Zhang HZ;  Yu DP;  Luo MC;  Wang RM Peking Univ Electron Microscopy Lab Beijing 100871 Peoples R China. 电子邮箱地址: rmwang@pku.edu.cn
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Transmission Electron Microscopy  Electron Energy Loss Spectroscopy  Molecular Beam Epitaxy  Gallium Nitride  Chemical-vapor-deposition  Epitaxy  Layer  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Luo, XH;  Wang, RM;  Zhang, XP;  Zhang, HZ;  Yu, DP;  Luo, MC;  Wang, RM, Peking Univ, Electron Microscopy Lab, Beijing 100871, Peoples R China. 电子邮箱地址: rmwang@pku.edu.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Li Dabing;  Dong Xun;  Liu Xianglin;  Wang Xiaohui;  Wang Zhanguo
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Sun Guosheng;  Zhang Yongxing;  Gao Xin;  Wang Junxi;  Wang Lei;  Zhao Wanshun;  Wang Xiaoliang;  Zeng Yiping;  Li Jinmin
Adobe PDF(327Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：908/333  |  提交时间：2010/11/23
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wang Xiaoliang;  Hu Guoxin;  Wang Junxi;  Liu Xinyu;  Liu Hongxin;  Sun Dianzhao;  Zeng Yiping;  Qian He;  Li Jinmin;  Kong Meiying;  Lin Lanying
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