检测键合质量的红外透视成像装置及调节方法
何国荣; 郑婉华; 杨国华; 石岩; 渠红伟; 宋国锋; 陈良惠
2008-05-14
公开日期2009-06-04 ; 2009-06-11
专利类型发明
申请日期2006-11-09
语种中文
申请号200610114407
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4021
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
何国荣,郑婉华,杨国华,等. 检测键合质量的红外透视成像装置及调节方法[P]. 2008-05-14.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
200610114407.pdf(602KB) 限制开放--请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[何国荣]的文章
[郑婉华]的文章
[杨国华]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[何国荣]的文章
[郑婉华]的文章
[杨国华]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[何国荣]的文章
[郑婉华]的文章
[杨国华]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。