中文版 | English

在结果中检索

SEMI OpenIR

浏览/检索结果: 共20条，第1-10条 帮助

限定条件                    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
以二氧化硅为掩模定位生长量子点的方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-12-03, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  任芸芸;  徐波;  周惠英;  刘明;  李志刚;  王占国
Adobe PDF(298Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1404/234  |  提交时间：2009/06/11
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou ZW;  Li C;  Lai HK;  Chen SY;  Yu JZ;  Li, C, Xiamen Univ, Dept Phys, Semicond Photon Res Ctr, Xiamen 361005, Peoples R China. 电子邮箱地址: lich@xmu.edu.cn;  jzyu@red.semi.ac.cn
Adobe PDF(825Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1276/343  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou ZW;  Li C;  Chen SY;  Lai HK;  Yu JZ;  Zhou, ZW, Xiamen Univ, Dept Phys, Semicond Photon Res Ctr, Xiamen 361005, Peoples R China. 电子邮箱地址: xmuzhouzw@yahoo.com.cn
Adobe PDF(48Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1004/290  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
Adobe PDF(750Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1101/423  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou ZW;  Cai ZM;  Li C;  Lai HK;  Chen SY;  Yu JZ;  Li, C, Xiamen Univ, Dept Phys, Semicond Photon Res Ctr, 422 S Siming Rd, Xiamen 361005, Fujian, Peoples R China. 电子邮箱地址: lich@xmu.edu.cn;  jzyu@red.semi.ac.cn
Adobe PDF(769Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1197/295  |  提交时间：2010/03/08
Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
Adobe PDF(511Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：2050/511  |  提交时间：2010/03/09
Bulge Test Fracture Property  Silicon Carbide Thin Films  Weibull Distribution Function  
Fracture properties of PECVD silicon nitride thin films by long rectangular memrane bulge test 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Li, Y;  Yang, FH;  Yang, JL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
Adobe PDF(267Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1415/372  |  提交时间：2010/03/09
Bulge Test  Fracture Property  Silicon Nitride  Weibull Distribution Function  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Shang, LY;  Lin, T;  Zhou, WZ;  Li, DL;  Gao, HL;  Zeng, YP;  Guo, SL;  Yu, GL;  Chu, JH;  Chu, JH, Chinese Acad Sci, Natl Lab Infrared Phys, Shanghai Inst Tech Phys, Shanghai 200083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jhchu@mail.sitp.ac.cn
Adobe PDF(192Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1017/268  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Shang, LY;  Lin, T;  Zhou, WZ;  Guo, SL;  Li, DL;  Gao, HL;  Cui, LJ;  Zeng, YP;  Chu, JH;  Shang, LY, Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Tech Phys, Natl Lab Infrared Phys, Shanghai 200083, Peoples R China. 电子邮箱地址: liyshang@mail.sitp.ac.en
Adobe PDF(233Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1062/295  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, BQ;  Zhu, MF;  Liu, FZ;  Liu, JL;  Zhou, YQ;  Li, GH;  Ding, K;  Zhou, BQ, Inner Mongolia Normal Univ, Coll Phys & Elect Informat, Hohhot 010022, Peoples R China. 电子邮箱地址: zhoubq@imnu.edu.cn
Adobe PDF(1505Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1036/219  |  提交时间：2010/03/08