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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Song C;  Rui YJ;  Wang QB;  Xu J;  Li W;  Chen KJ;  Zuo YH;  Wang QM;  Xu, J, Nanjing Univ, Nanjing Natl Lab Microstruct, Nanjing 210093, Peoples R China. junxu@nju.edu.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
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Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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Bulge Test Fracture Property  Silicon Carbide Thin Films  Weibull Distribution Function  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zheng XH;  Qu B;  Wang YT;  Dai ZZ;  Yang H;  Liang JW;  Zheng XH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Beijing 100083,Peoples R China.
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