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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wang ZG;  Wang SJ;  Zhang CL;  Li JB;  Wang, ZG, Univ Elect Sci & Technol China. , Dept Appl Phys, Chengdu 610054, Peoples R China. zgwang@uestc.edu.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhang, Feng;  Sun, Guosheng;  Huang, Huolin;  Wu, Zhengyun;  Wang, Lei;  Zhao, Wanshun;  Liu, Xingfang;  Yan, Guoguo;  Zheng, Liu;  Dong, Lin;  Zeng, Yiping;  Zhang, F.(fzhang@semi.ac.cn)
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Yan, Guoguo;  Sun, Guosheng;  Wu, Hailei;  Wang, Lei;  Zhao, Wanshun;  Liu, Xingfang;  Zeng, Yiping;  Wen, Jialiang;  Yan, G.(ggyan@semi.ac.cn)
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wu, Hailei;  Sun, Guosheng;  Yang, Ting;  Yan, Guoguo;  Wang, Lei;  Zhao, Wanshun;  Liu, Xingfang;  Zeng, Yiping;  Wen, Jialiang;  Wu, H.(hlwu@semi.ac.cn)
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Sun GS;  Liu XF;  Wu HL;  Yan GG;  Dong L;  Zheng L;  Zhao WS;  Wang L;  Zeng YP;  Li XG;  Wang ZG;  Sun, GS, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China. gshsun@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Song C;  Rui YJ;  Wang QB;  Xu J;  Li W;  Chen KJ;  Zuo YH;  Wang QM;  Xu, J, Nanjing Univ, Nanjing Natl Lab Microstruct, Nanjing 210093, Peoples R China. junxu@nju.edu.cn
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Heteroepitaxial Growth of 3C-SiC on Si (111) Substrate using AlN as a Buffer Layer 会议论文
SILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS 2007, Otsu, JAPAN, OCT 14-19, 2007
作者:  Zhao, YM;  Sun, GS;  Liu, XF;  Li, JY;  Zhao, WS;  Wang, L;  Li, JM;  Zeng, YP;  Zhao, YM, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China.
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Silicon Carbide  Aluminum Nitride  Buffer Layer  Lpcvd  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wang ZG;  Gao F;  Li JB;  Zu XT;  Weber WJ;  Wang ZG Univ Elect Sci & Technol China Dept Appl Phys Chengdu 610054 Peoples R China. E-mail Address: zgwang@uestc.edu.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
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Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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Bulge Test Fracture Property  Silicon Carbide Thin Films  Weibull Distribution Function