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在非透明衬底上生长的磁性薄膜的透射MCD光谱的测量方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-05-21
发明人:  贺振鑫;  刘奇;  吴元军;  纪晓晨
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一种图像传感器特性参数测量分析系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:  秦琦;  吴南健;  冯鹏;  刘力源
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