Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
单层二硒化钼及氮化铝缺陷的光学性质研究 | |
杨倩 | |
Subtype | 硕士 |
2020-07 | |
Degree Grantor | 中国科学院大学 |
Place of Conferral | 中国科学院半导体研究所 |
Language | 中文 |
Document Type | 学位论文 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/29925 |
Collection | 半导体超晶格国家重点实验室 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 杨倩. 单层二硒化钼及氮化铝缺陷的光学性质研究[D]. 中国科学院半导体研究所. 中国科学院大学,2020. |
Files in This Item: | ||||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
2020109-公开-杨倩-硕士-单层二(3253KB) | 学位论文 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | Application Full Text |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment