SEMI OpenIR  > 固态光电信息技术实验室
小型化光电被动测距装置
杨金宝
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2018-05-23
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2016-11-30
申请号201611079550.2
专利代理人中科专利商标代理有限责任公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/28326
专题固态光电信息技术实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
杨金宝. 小型化光电被动测距装置.
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