一种InxAl1-xN/AlN复合势垒层氮化镓基异质结高电子迁移率晶体管结构 | |
王晓亮; 李巍; 肖红领; 冯春; 姜丽娟; 殷海波; 王翠梅; 李百泉 | |
专利权人 | 中国科学院半导体所 |
公开日期 | 2016-09-28 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
学科领域 | 半导体材料 |
申请日期 | 2015-01-06 |
申请号 | CN201520005583.7 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27623 |
专题 | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王晓亮,李巍,肖红领,等. 一种InxAl1-xN/AlN复合势垒层氮化镓基异质结高电子迁移率晶体管结构. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
一种In-sub-x--sub-Al-s(414KB) | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 |
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