Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
基于SURF算法的遥控器面板印刷缺陷自动检测方法 | |
王俭; 来疆亮; 鲁华祥; 边昳; 陈旭; 李威 | |
专利权人 | 中国科学院半导体所 |
公开日期 | 2016-09-28 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
学科领域 | 人工智能 |
申请日期 | 2015-01-26 |
申请号 | CN201510037520.4 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27599 |
专题 | 高速电路与神经网络实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王俭,来疆亮,鲁华祥,等. 基于SURF算法的遥控器面板印刷缺陷自动检测方法. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
基于SURF算法的遥控器面板印刷缺陷自动(1648KB) | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 |
个性服务 |
推荐该条目 |
保存到收藏夹 |
查看访问统计 |
导出为Endnote文件 |
谷歌学术 |
谷歌学术中相似的文章 |
[王俭]的文章 |
[来疆亮]的文章 |
[鲁华祥]的文章 |
百度学术 |
百度学术中相似的文章 |
[王俭]的文章 |
[来疆亮]的文章 |
[鲁华祥]的文章 |
必应学术 |
必应学术中相似的文章 |
[王俭]的文章 |
[来疆亮]的文章 |
[鲁华祥]的文章 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论