Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 一种测试复合硅衬底上多层石墨烯样品层数的方法 | |
| 谭平恒; 李晓莉; 韩文鹏; 乔晓粉 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体所 |
| 公开日期 | 2016-09-28 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 半导体物理 |
| 申请日期 | 2015-04-01 |
| 申请号 | CN201510151989.0 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27565 |
| 专题 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 谭平恒,李晓莉,韩文鹏,等. 一种测试复合硅衬底上多层石墨烯样品层数的方法. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 一种测试复合硅衬底上多层石墨烯样品层数的（850KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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