在SiC材料中获取二维电子气的方法
申占伟; 张峰; 赵万顺; 王雷; 闫果果; 刘兴昉; 孙国胜; 曾一平
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-09-22
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体材料
申请日期2015-06-29
申请号CN201510366654.0
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27517
专题中科院半导体材料科学重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
申占伟,张峰,赵万顺,等. 在SiC材料中获取二维电子气的方法.
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