一种测量LED内量子效率的方法 | |
安平博; 赵丽霞; 魏学成; 路红喜; 王军喜; 李晋闽 | |
Rights Holder | 中国科学院半导体所 |
Date Available | 2016-09-12 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Subject Area | 半导体器件 |
Application Date | 2014-03-05 |
Application Number | CN201410079018.5 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27362 |
Collection | 中科院半导体照明研发中心 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 安平博,赵丽霞,魏学成,等. 一种测量LED内量子效率的方法. |
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一种测量LED内量子效率的方法.pdf(556KB) | 限制开放 | License | Application Full Text |
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