高密度高均匀InGaN量子点结构及生长方法 | |
刘炜; 赵德刚; 陈平; 刘宗顺; 江德生 | |
Rights Holder | 中国科学院半导体所 |
Date Available | 2016-09-02 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Subject Area | 光电子学 |
Application Date | 2014-08-20 |
Application Number | CN201410412107.7 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27338 |
Collection | 光电子研究发展中心 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 刘炜,赵德刚,陈平,等. 高密度高均匀InGaN量子点结构及生长方法. |
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高密度高均匀InGaN量子点结构及生长方(434KB) | 限制开放 | License | Application Full Text |
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