SEMI OpenIR  > 光电子研究发展中心
基于全光交叉偏振调制的空间方向角测量系统
孙文惠; 李伟; 王文亭; 王玮钰; 佟有万; 刘建国; 祝宁华; 袁海庆
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-08-30
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2014-12-17
申请号CN201410785343.3
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27207
专题光电子研究发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
孙文惠,李伟,王文亭,等. 基于全光交叉偏振调制的空间方向角测量系统.
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