Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 基于视觉芯片的编带内芯片外观缺陷检测系统 | |
| 李搏 | |
| 学位类型 | 硕士 |
| 导师 | 吴南健 |
| 2015-05 | |
| 学位授予单位 | 中国科学院研究生院 |
| 学位授予地点 | 北京 |
| 学位专业 | 集成电路工程 |
| 公开日期 | 2015-06-02 |
| 文献类型 | 学位论文 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/26550 |
| 专题 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李搏. 基于视觉芯片的编带内芯片外观缺陷检测系统[D]. 北京. 中国科学院研究生院,2015. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 基于视觉芯片的编带内芯片外观缺陷检测系统（2347KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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