| 光致反常霍尔效应的变温测量装置及测量方法 | |
| 朱来攀; 陈涌海; 刘雨; 俞金玲; 蒋崇云 | |
| Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
| Date Available | 2014-05-21 |
| Country | 中国 |
| Subtype | 发明 |
| Subject Area | 半导体材料 |
| Application Date | 2014-02-13 |
| Application Number | CN201410050256.3 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25770 |
| Collection | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 朱来攀,陈涌海,刘雨,等. 光致反常霍尔效应的变温测量装置及测量方法. |
| Files in This Item: | ||||||
| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 光致反常霍尔效应的变温测量装置及测量方法（604KB） | 限制开放 | License | Application Full Text | |||
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment