SEMI OpenIR  > 高速电路与神经网络实验室
一种利用关键点特征匹配的图像跟踪方法
蒋寓文; 王守觉; 李卫军; 谭乐怡
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014-07-30
授权国家中国
专利类型发明
学科领域人工智能
申请日期2014-04-21
申请号CN201410160273.2
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25705
专题高速电路与神经网络实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
蒋寓文,王守觉,李卫军,等. 一种利用关键点特征匹配的图像跟踪方法.
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