硅基高迁移率沟道CMOS的制备方法 | |
周旭亮; 于红艳; 李士颜; 潘教青; 王圩 | |
Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
Date Available | 2013-08-21 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Subject Area | 半导体材料 |
Application Date | 2013-05-14 |
Application Number | CN201310176286.4 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25617 |
Collection | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 周旭亮,于红艳,李士颜,等. 硅基高迁移率沟道CMOS的制备方法. |
Files in This Item: | ||||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
硅基高迁移率沟道CMOS的制备方法.pd(532KB) | 限制开放 | License | Application Full Text |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment