SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
一种检测光通讯波段半导体材料发光单光子特性的方法
周鹏宇; 孙宝权; 窦秀明; 武雪飞; 丁琨
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014-02-12
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体物理
申请日期2013-11-21
申请号CN201310594591.5
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25451
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
周鹏宇,孙宝权,窦秀明,等. 一种检测光通讯波段半导体材料发光单光子特性的方法.
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一种检测光通讯波段半导体材料发光单光子特(556KB) 限制开放使用许可请求全文
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