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一种检测光通讯波段半导体材料发光单光子特性的方法 | |
周鹏宇; 孙宝权; 窦秀明; 武雪飞; 丁琨 | |
Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
Date Available | 2014-02-12 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Subject Area | 半导体物理 |
Application Date | 2013-11-21 |
Application Number | CN201310594591.5 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25451 |
Collection | 半导体超晶格国家重点实验室 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 周鹏宇,孙宝权,窦秀明,等. 一种检测光通讯波段半导体材料发光单光子特性的方法. |
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一种检测光通讯波段半导体材料发光单光子特(556KB) | 限制开放 | License | Application Full Text |
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