BiFeO3薄膜的原子层沉积方法 | |
张峰; 孙国胜; 王雷; 赵万顺; 刘兴昉; 曾一平 | |
Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
Date Available | 2012-11-14 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Subject Area | 半导体材料 |
Application Date | 2012-08-07 |
Application Number | CN201210278738.5 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25281 |
Collection | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 张峰,孙国胜,王雷,等. BiFeO3薄膜的原子层沉积方法. |
Files in This Item: | ||||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
BiFeO3薄膜的原子层沉积方法.pdf(522KB) | 限制开放 | License | Application Full Text |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment