SEMI OpenIR  > 高速电路与神经网络实验室
基于数学形态学的量子点检测方法
徐露露; 鲁华祥; 边昳; 陈旭; 龚国良; 刘文鹏; 张放; 金敏; 陈刚
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-12-19
授权国家中国
专利类型发明
学科领域人工智能
申请日期2012-07-05
申请号CN201210232222.7
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25232
专题高速电路与神经网络实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
徐露露,鲁华祥,边昳,等. 基于数学形态学的量子点检测方法.
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