| 一种测量直接带隙半导体材料禁带宽度的装置和方法 | |
| 刘宗顺; 赵德刚; 陈平; 江德生 | |
| Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
| Date Available | 2013-02-20 |
| Country | 中国 |
| Subtype | 发明 |
| Subject Area | 光电子学 |
| Application Date | 2012-11-16 |
| Application Number | CN201210461734.0 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25205 |
| Collection | 光电子研究发展中心 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 刘宗顺,赵德刚,陈平,等. 一种测量直接带隙半导体材料禁带宽度的装置和方法. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 一种测量直接带隙半导体材料禁带宽度的装置（866KB） | 限制开放 | License | Application Full Text | |||
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