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用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法; 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法; 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法; 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法; 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法; 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法; 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法; 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法
任鲁风; 王绪敏; 李运涛; 周晓光; 袁丽娜; 冯玉臣; 秦奕; 韩伟静; 谷岚; 滕明静; 俞育德; 于军
专利权人中国科学院北京基因组研究所 ; 中国科学院半导体研究所
公开日期2012-10-03
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2012-05-24
语种中文
申请号CN201210165385.8
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24709
专题光电子研究发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
任鲁风,王绪敏,李运涛,等. 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法, 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法, 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法, 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法, 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法, 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法, 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法, 用于DNA测序仪的试剂供应系统及控制方法.
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