| 精确测量弱光纤光栅反射率的方法; 精确测量弱光纤光栅反射率的方法 | |
| 徐团伟; 李芳; 刘育梁 | |
| Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
| Date Available | 2012-09-07 ; 2012-09-07 ; 2012-09-07 |
| Country | 中国 |
| Subtype | 发明 |
| Abstract | 一种精确测量弱光纤光栅反射率的方法,该方法包括：步骤1：将宽带光源与3dB耦合器的端口1连接；步骤2：将3dB耦合器的端口2与弱光纤光栅一端连接；步骤3：将3dB耦合器的端口3与光谱仪连接；步骤4：切割光纤光栅的另一端,获得平整端面；步骤5：设置光谱仪的分辨率,光谱仪对弱光纤光栅进行波长扫描,获得弱光纤光栅的反射谱,根据光谱中反射峰的高度来计算弱光纤光栅的反射率。 |
| metadata_83 | 光电系统实验室 |
| Application Date | 2011-09-08 |
| Patent Number | CN102323042A |
| Language | 中文 |
| Status | 公开 |
| Application Number | CN201110264452.7 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23374 |
| Collection | 光电系统实验室 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 徐团伟,李芳,刘育梁. 精确测量弱光纤光栅反射率的方法, 精确测量弱光纤光栅反射率的方法. CN102323042A. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 精确测量弱光纤光栅反射率的方法.pdf（306KB） | 限制开放 | License | Application Full Text | |||
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