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| 一种偏振分辨的差分反射谱测量系统; 一种偏振分辨的差分反射谱测量系统 | |
| 申超; 朱汇; 吴昊 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2012-08-29 ; 2011-06-15 ; 2012-08-29 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明公开了一种偏振分辨的差分反射谱测量系统,包括：一液氮杜瓦；一手动三维平移台；一消色差透镜；一激震器用于周期性震动透镜；一宽波段四分之一波长波片；一双输出格兰泰勒棱镜；一宽波段线偏振片以及一宽波长二分之一波长波片；一单色仪；一超连续白光光源；一探测器；两台锁相放大器；以及一斩波。利用本发明,通过配备低温杜瓦,可以测量样品在77K至300K之间的偏振分辨差分反射谱,从而可以进一步研究分析物质与自旋相关的能带结构和特性。 |
| 部门归属 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 申请日期 | 2010-12-20 |
| 专利号 | CN102095689A |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | CN201010596245.7 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23338 |
| 专题 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 申超,朱汇,吴昊. 一种偏振分辨的差分反射谱测量系统, 一种偏振分辨的差分反射谱测量系统. CN102095689A. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 一种偏振分辨的差分反射谱测量系统.pdf（501KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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