SEMI OpenIR  > 半导体集成技术工程研究中心
基于差分方法的MEMS器件信号检测电路; 基于差分方法的MEMS器件信号检测电路
韩国威; 宁瑾; 孙国胜; 赵永梅; 杨富华
Rights Holder中国科学院半导体研究所
Date Available2011-08-31 ; 2011-08-31 ; 2011-08-31
Country中国
Subtype发明
Abstract一种基于差分方法的MEMS器件信号检测电路,包括:一信号源;一跟随器,该跟随器的输入端与信号源的输出端连接,以跟随信号源的变化;一第一器件夹具,该第一器件夹具的一端与跟随器的输出端连接,以提供一路与信号源同相的激励信号;一反相器,该反相器的输入端与信号源的输出端连接,以将信号源的输出信号反相;一第二器件夹具,该第二器件夹具的一端与反相器的输出端连接,以提供一路与信号源反相的激励信号;一跨阻放大器,该跨阻放大器的输入端与第一器件夹具及第二器件夹具的另一端连接,以将第一器件夹具与第二器件夹具的电流之和转化为电压。
metadata_83半导体集成技术工程研究中心
Patent NumberCN201010564525.X
Language中文
Status公开
Application NumberCN201010564525.X
Patent Agent汤保平
Document Type专利
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22339
Collection半导体集成技术工程研究中心
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GB/T 7714
韩国威,宁瑾,孙国胜,等. 基于差分方法的MEMS器件信号检测电路, 基于差分方法的MEMS器件信号检测电路. CN201010564525.X.
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基于差分方法的MEMS器件信号检测电路.(387KB) 限制开放--Application Full Text
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