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氮化镓生长方法
段瑞飞; 魏同波; 王国宏; 曾一平; 李晋闽
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-31
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种氮化镓生长方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:取一衬底;步骤2:在衬底上采用磁控溅射、脉冲激光沉积或MOCVD的方法,生长缓冲层;步骤3:在缓冲层上采用MOCVD、HVPE或者脉冲激光沉积、磁控溅射的方法,生长外延层。
部门归属中科院半导体照明研发中心
专利号CN200810224104.5
语种中文
专利状态公开
申请号CN200810224104.5
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22173
专题中科院半导体照明研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
段瑞飞,魏同波,王国宏,等. 氮化镓生长方法. CN200810224104.5.
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