| 利用全反射角的改变进行传感的折射率传感方法 |
| 於丰; 阚强 ; 许兴胜; 王春霞; 刘宏伟; 陈弘达
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| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所
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| 公开日期 | 2011-08-30
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明
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| 摘要 | 本发明公开了一种利用全反射角的改变进行传感的折射率传感方法，该方法包括：光从折射率为N的材料入射至折射率为n1的传感物质时，测出在不同入射角时的反射率，得到反射数据与曲线，其中N＞n1；对反射率求角度微分，得到反射率角度微分数据与曲线，从反射率角度微分数据与曲线中提取出全反射角θ1；光从折射率为N的材料入射至折射率为n1+Δn的传感物质时，测出不同入射角时的反射率，得到反射数据与曲线，其中N＞n1+Δn；对反射率求角度微分，得到反射率角度微分数据与曲线，从反射率角度微分数据与曲线中提取出全反射角θ2；根据公式Δn＝N(sin(θ1)-sin(θ2))计算出折射率的变化。本发明实现起来简单，测试容易；能精确定出全反射角，提高了传感精度和灵敏度。 |
| 部门归属 | 集成光电子学国家重点实验室
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| 专利号 | CN200810240936.6
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 公开
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| 申请号 | CN200810240936.6
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| 专利代理人 | 周国城
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22073
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| 专题 | 集成光电子学国家重点实验室
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
於丰,阚强,许兴胜,等. 利用全反射角的改变进行传感的折射率传感方法. CN200810240936.6.
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