SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
一种制作纳米压印印章的方法
刘宏伟; 阚强; 王春霞; 陈弘达
Rights Holder中国科学院半导体研究所
Date Available2011-08-30
Country中国
Subtype发明
Abstract本发明公开了一种制作纳米压印印章的方法,该方法通过电子束曝光在电子束胶上得到纳米图形,利用金属蒸发和电镀的方法将该纳米图形填充后转移到金属表面,然后将带有微纳结构的金属镀膜转移粘附在金属衬底上,得到可重复使用的纳米压印印章。该方法制作的金属纳米压印印章具有高硬度和良好的延展性能,同时制作成本较低,工艺实现简单,在微纳图形加工技术领域可以得到广泛应用。
metadata_83集成光电子学国家重点实验室
Patent NumberCN201010139179.0
Language中文
Status公开
Application NumberCN201010139179.0
Patent Agent周国城
Document Type专利
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21947
Collection集成光电子学国家重点实验室
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GB/T 7714
刘宏伟,阚强,王春霞,等. 一种制作纳米压印印章的方法. CN201010139179.0.
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