SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
一种InGaN半导体光电极的制作方法
王辉; 朱建军; 张书明; 杨辉
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种InGaN半导体光电极的制作方法,该方法包括:步骤1:取一衬底(21);步骤2:在该衬底(21)上外延生长InGaN层(22);步骤3:在该InGaN层(22)上制作形成纳米微结构层(31);步骤4:在该InGaN纳米微结构层(31)上,外延生长或沉积n型或p型表面层(41)。利用本发明,将纳米结构引入到半导体光电极表面,大大降低了电极表面对光的反射,提高了电极与电解液的有效接触面积,增加了电化学反应效率,最大程度地提高了半导体光电极对太阳光的转换效率。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN201010263078.4
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010263078.4
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21899
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
王辉,朱建军,张书明,等. 一种InGaN半导体光电极的制作方法. CN201010263078.4.
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