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Characterization of GaSb substrate wafers for MOCVD III-V antimonides 会议论文
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1997, 160, TEMPLIN, GERMANY, SEP 07-10, 1997
作者:  Peng RW;  Ding YQ;  Xu CM;  Wang XG;  Peng RW Acad Sinica Shanghai Inst Met Shanghai 200050 Peoples R China.
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Vapor-phase Epitaxy  Growth