中文版 | English

在结果中检索

SEMI OpenIR

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助

限定条件                    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
一种片状材料厚度测量装置 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-12-27, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  朱蓉辉;  惠峰;  卜俊鹏;  郑红军
Adobe PDF(243Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1383/198  |  提交时间：2009/06/11
一种晶片工艺卡具 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-12-27, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  朱蓉辉;  惠峰;  卜俊鹏;  郑红军
Adobe PDF(345Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1459/209  |  提交时间：2009/06/11
多线切割载荷控制方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-12-27, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  朱蓉辉;  惠峰;  卜俊鹏;  郑红军
Adobe PDF(289Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1466/187  |  提交时间：2009/06/11
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Cong GW;  Peng WQ;  Wei HY;  Han XX;  Wu JJ;  Liu XL;  Zhu QS;  Wang ZG;  Lu JG;  Ye ZZ;  Zhu LP;  Qian HJ;  Su R;  Hong CH;  Zhong J;  Ibrahim K;  Hu TD;  Cong, GW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail: gwcong@semi.ac.cn
Adobe PDF(85Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1868/780  |  提交时间：2010/04/11
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Cong GW;  Peng WQ;  Wei HY;  Liu XL;  Wu JJ;  Han XX;  Zhu QS;  Wang ZG;  Ye ZZ;  Lu JG;  Zhu LP;  Qian HJ;  Su R;  Hong CH;  Zhong J;  Ibrahim K;  Hu TD;  Cong, GW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail: gwcong@semi.ac.cn
Adobe PDF(273Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1271/368  |  提交时间：2010/04/11