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单光路量子效率测试系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-04-01, 公开日期: 3990
发明人:  刘 磊;  陈诺夫;  曾湘波;  张 汉;  吴金良;  高福宝
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  沈海波;  郭亨群;  王国立;  王加贤;  吴志军;  宋江婷;  徐骏;  陈坤基;  王启明
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  宋江婷;  郭亨群;  王加贤;  吴志军;  王国立;  沈海波;  徐骏;  陈坤基;  王启明
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