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Formation mechanism of defects in annealed InP 会议论文
OPTOELECTRONIC MATERIALS AND DEVICES, 3419, TAIPEI, TAIWAN, JUL 09-11, 1998
作者:  Han YJ;  Liu XL;  Jiao JH;  Lin LY;  Han YJ Chinese Acad Sci Inst Semicond POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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Defects Formation  Hydrogen Related Defects  Semi-insulating  Inp