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基于带电氧空位漂移的HfO2基薄膜负电容机理 学位论文
工程硕士, 中国科学院半导体研究所: 中国科学院大学, 2023
作者:  董昊
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作者:  Chunxu Bai;  Yanling Yang;  Kai Chang
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhijie Wang;  DaweiCao;  RuiXu;  ShengchunQu;  Zhanguo Wang;  YongLei
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Cao YL (Cao Yu-Lian);  Yang T (Yang Tao);  Xu PF (Xu Peng-Fei);  Ji HM (Ji Hai-Ming);  Gu YX (Gu Yong-Xian);  Wang XD (Wang Xiao-Dong);  Wang Q (Wang Qing);  Ma WQ (Ma Wen-Quan);  Chen LH (Chen Liang-Hui);  Yang, T, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: tyang@semi.ac.cn
Adobe PDF(382Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1365/412  |  提交时间：2010/05/24