中文版 | English

在结果中检索

SEMI OpenIR

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助

限定条件        
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Observation of defects in GaN epilayers 会议论文
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1997, 160, TEMPLIN, GERMANY, SEP 07-10, 1997
作者:  Kang JY;  Liu XL;  Ogawa T;  Kang JY Gakushuin Univ Dept Phys Tokyo 171 Japan.
Adobe PDF(235Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1261/215  |  提交时间：2010/11/15
Scattering  Sapphire  Growth