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在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人:  提刘旺;  杨晓红;  韩 勤
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在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人:  杨晓红;  韩 勤;  提刘旺
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Jiang XW (Jiang Xiang-Wei);  Deng HX (Deng Hui-Xiong);  Li SS (Li Shu-Shen);  Luo JW (Luo Jun-Wei);  Wang LW (Wang Lin-Wang);  Jiang, XW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: xwjiang@semi.ac.cn
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量子点-阱红外探测器的结构及其制备方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-09-24, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  王志成;  徐波;  刘峰奇;  陈涌海;  王占国;  石礼伟;  梁凌燕
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Hu, LJ;  Chen, YH;  Ye, XL;  Jiao, YH;  Shi, LW;  Wang, ZG;  Chen, YH, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: yhchen@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wang ZC;  Chen YH;  Xu B;  Liu FQ;  Shi LW;  Tang CG;  Wang ZG;  Wang, ZC, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: wangzc@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wang ZC;  Xu B;  Chen YH;  Shi LW;  Liang ZM;  Wang ZG;  Wang, ZG, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: wangzc@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Deng, HX;  Jiang, XW;  Luo, JW;  Li, SS;  Xia, JB;  Wang, LW;  Deng, HX, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: lwwang@lbl.gov
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Jiang, XW;  Deng, HX;  Luo, JW;  Li, SS;  Wang, LW;  Jiang, XW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Natl Lab Superlattices & Microstruct, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: xwjiang@semi.ac.cn;  lwwang@lbl.gov
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Shi LW;  Chen YH;  Xu B;  Wang ZC;  Jiao YH;  Wang ZG;  Shi, LW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: Liweishi@semi.ac.cn
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