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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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专题:中国科学院半导体研究所(2009年前)
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期刊论文
作者:
Tan XT
;
Zheng HZ
;
Liu J
;
Zhu H
;
Xu P
;
Li GR
;
Yang FH
;
Zheng HZ Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Microstruct & Superlattices POB 912 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: hzzheng@semi.ac.cn
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浏览/下载:1059/243
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Sun XM
;
Zhang H
;
Zhu H
;
Xu P
;
Li GR
;
Liu J
;
Zheng HZ
;
Sun XM Chinese Acad Sci State Key Lab Microstruct & Superlattices Inst Semicond POB 912 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: hzzheng@semi.ac.cn
Adobe PDF(150Kb)
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浏览/下载:1231/358
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提交时间:2010/03/08
鉴别样品是否含有微小半导体碳纳米管束的方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-11-19, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:
谭平恒
;
张俊
;
李桂荣
Adobe PDF(464Kb)
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浏览/下载:1433/179
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提交时间:2009/06/11
提高半导体型碳纳米管发光效率的方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-11-19, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:
谭平恒
;
张俊
;
李桂荣
Adobe PDF(365Kb)
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浏览/下载:1302/196
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提交时间:2009/06/11
共焦显微中远红外探测器光谱响应测量系统
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-06-25, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:
朱汇
;
郑厚植
;
谭平恒
;
章昊
;
甘华东
;
孙晓明
;
李桂荣
Adobe PDF(629Kb)
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浏览/下载:1429/205
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提交时间:2009/06/11
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Xiao, WB
;
Zheng, HZ
;
Liu, J
;
Li, GR
;
Zhao, JH
;
Xiao, WB, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hzzheng@red.semi.ac.cn
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浏览/下载:1238/291
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhang, F
;
Zheng, HZ
;
Ji, Y
;
Li, GR
;
Zhang, F, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hzzheng@red.semi.ac.cn
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浏览/下载:917/208
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhang, F
;
Zheng, HZ
;
Ji, Y
;
Liu, J
;
Li, GR
;
Zhang, F, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hzzheng@red.semi.ac.cn
Adobe PDF(377Kb)
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浏览/下载:949/289
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提交时间:2010/03/08
变温显微磁光光谱系统
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2007-10-24, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:
谭平恒
;
郑厚植
;
李桂荣
;
章昊
;
姬杨
;
甘华东
;
朱汇
Adobe PDF(636Kb)
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浏览/下载:1189/173
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提交时间:2009/06/11
显微拉曼谱仪与近红外光谱仪的联合测试系统
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2007-10-24, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:
谭平恒
;
李桂荣
;
朱汇
;
甘华东
Adobe PDF(464Kb)
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浏览/下载:1568/214
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提交时间:2009/06/11