鉴别样品是否含有微小半导体碳纳米管束的方法
谭平恒; 张俊; 李桂荣
2008-11-19
公开日期2009-06-04 ; 2009-06-11
专利类型发明
申请日期2007-05-16
语种中文
申请号CN200710099288.2
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4239
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
谭平恒,张俊,李桂荣. 鉴别样品是否含有微小半导体碳纳米管束的方法[P]. 2008-11-19.
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