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GaAs基半导体量子点激光器管芯质量的检测和分析方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-07-02, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  梁凌燕;  叶小玲;  徐波;  陈涌海;  王占国
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Chen YH;  Jin P;  Ye XL;  Xu B;  Wang ZG;  Yang Z;  Chen, YH, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail: yhchen@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Ye XL;  Chen YH;  Wang JZ;  Xu B;  Wang ZG;  Yang Z;  Ye XL,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Lab Semicond Mat Sci,POB 912,Beijing 100083,Peoples R China.
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  钱家骏;  叶小玲;  徐波;  韩勤;  陈涌海;  丁鼎;  梁基本;  刘峰奇;  张金福;  张秀兰;  王占国
Adobe PDF(372Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1514/369  |  提交时间:2010/11/23