GaAs基半导体量子点激光器管芯质量的检测和分析方法
梁凌燕; 叶小玲; 徐波; 陈涌海; 王占国
2008-07-02
公开日期2009-06-04 ; 2009-06-11
专利类型发明
申请日期2006-12-28
语种中文
申请号200610169748
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4093
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
梁凌燕,叶小玲,徐波,等. GaAs基半导体量子点激光器管芯质量的检测和分析方法[P]. 2008-07-02.
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