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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 专利

专利名称: 单光路量子效率测试系统
发明人: 刘 磊;  陈诺夫;  曾湘波;  张 汉;  吴金良;  高福宝
授权日期: 2009-4-1
专题: 半导体研究所机构知识库_专利

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刘 磊;陈诺夫;曾湘波;张 汉;吴金良;高福宝,单光路量子效率测试系统,CN200610171658,39351
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