用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪
刘运涛
2009-11-11
专利权人中科院半导体研究所
公开日期4012
授权国家中国
专利类型发明
申请日期2008-05-09
语种中文
专利状态公开
申请号CN200810106278
专利代理人汤宝平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/9000
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
刘运涛. 用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪[P]. 2009-11-11.
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